Surtronic DUO粗糙度儀表面粗糙度理論的新進展

　　Surtronic DUO粗糙度儀是一款*符合ISO標準的新產品，是評定零件表面質量的多用途便攜式儀器，具有符合多個標準和標準的多個參數，可對多種零件表面的粗糙度、波紋度和原始輪廓進行多參數評定，可測量平面、外圓柱面、內孔表面等。
　　Surtronic DUO粗糙度儀在Win操作系統下界面十分友好穩定。測量軟件符合粗糙度定義，可高精度的工作；使用簡單方便，能在計算機內貯存測量結果、數據、圖形；編輯統計平均值等測量數據，便于網絡傳輸。
　　隨著工業的發展和對外開放與技術合作的需要，我國對表面粗糙度的研究和標準化愈來愈被科技和工業界所重視，為迅速改變國內表面粗糙度方面的術語和概念不統一的局面，并達到與統一的作用，我國等效采用標準化組織(ISO)有關的標準制訂了GB《表面粗糙度術語表面及其參數》。專門對有關表面粗糙度的表面及其參數等術語作了規定，其中有三個部分共27個參數術語：與微觀不平度高度特性有關的表面粗糙度參數術語。其中定義的常用術語為：輪廓算術平均偏差Ra、輪廓均方根偏差Rq、輪廓zui大高度Ry和微觀不平度十點高度Rz等11個參數。
　　Surtronic DUO粗糙度儀表面形貌評定的核心在于特征信號的無失真提取和對使用性能的量化評定，國內外學者在這一方面做了大量工作，提出了許多分離與重構方法。隨著當今微機處理技術、集成電路技術、機電一體化技術等的發展，出現了用分形法、Motif法、功能參數集法、時間序列技術分析法、zui小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，取得了顯著進展。