Surtronic DUO 英國泰勒霍普森粗糙度儀信息

Surtronic DUO粗糙度儀通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅動裝置，確保測針在被測表面行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能敏銳地檢測到它的垂直移動，并將這種機械移動迅速轉化為電子信號。電子信號隨后進行數字化處理并發送到微處理器，微處理器運用標準化算法即時計算出表面粗糙度參數，為用戶提供精準的測量數據。

Surtronic DUO粗糙度儀可一鍵測量多種粗糙度參數，如 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rz1max、Rsk、Rq、Rku、Pa、Pz、Pp、Pv、Pt 等，符合 ISO 4287 標準，能充分滿足不同用戶在各類復雜場景下對表面粗糙度測量的多樣化需求。