DualScope MP0R（兩用法）袖珍測厚儀 DUALSCOPE MP0R和MP0R-FP測量儀器可以輕松，快速，非破壞性地測量涂層厚度，并以所有Fischer儀器的典型精度測量涂層厚度。 ?適用于現(xiàn)場應用，由于體積小巧，重量輕，堅固耐用的儀器設計 ?直觀的操作菜單導航和圖形顯示。 顯示屏會自動轉為智能手機 ?第二顯示器直接在儀器的頂部讀取測量結果，例如用于測量開銷

DUALSCOPE FMP40測厚儀安裝指導 安裝指導： 一．安裝PC-Datex軟件。安裝結束后，打開Microsoft Excel，點擊工具菜單欄下的加載宏選項， 再按瀏覽鍵，在剛才的安裝目錄下找到并點擊PcDatex95后按確定，此時應出現(xiàn)如下窗口：

X-RAY XAN310熒光射線材料分析及鍍層測厚儀 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價比的緊湊入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。

菲希爾XDLM-pcb200 來自德國菲希爾Fischer的XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅固耐用的入門級儀器。

DualScope MP0測厚儀- 菲希爾 DualScope MP0測厚儀，袖珍測厚儀中的產品，也是應用Z廣泛，性價比較高的一款小型儀器，篤摯儀器為菲希爾正式授權的專業(yè)經銷商，證書齊全，貨源穩(wěn)定，正規(guī)渠道拿貨

菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。